多基因芯片整合

　　實(shí)驗介紹目前在公共數據庫中可以收集到相同或相似的實(shí)驗設計的基因表達譜數據，但是每一個(gè)數據集的包含的樣本數目有限，單從一個(gè)基因表達譜的數據出發(fā)挖掘得到的信息不夠全面。即使相同平臺產(chǎn)生的數據在不同實(shí)驗室獲得的數據信息會(huì )存在許多不一致的地方。目前從臨床上借鑒meta分析研究多個(gè)不同實(shí)驗室得到的相似課題下的基因表達譜，可以更全面的篩選特定疾病的關(guān)鍵基因和生物學(xué)過(guò)程。

　　常規的多基因表達譜芯片整合流程中最關(guān)鍵的一步為去除批次誤差即批次誤差，可研生物科技有限公司自行研發(fā)的快速芯片分析系統中集成了批次誤差修正程序，可以快速的分析多實(shí)驗集的芯片數據，獲得可靠的芯片分析報告。

 

　　借鑒meta分析策略，我們還開(kāi)發(fā)了多芯片meta分析流程，快速的獲得多基因表達單基因的meta分析結果。

 

　　服務(wù)流程：